杭州ESD静电测试需要那些材料

深圳市德莱检测技术有限公司（简称：德莱检测，英文缩写DL）是一家从事电子电器产品、消费产品和工业用品检测认证的第三方检测认证机构 。DL为电源、家电、灯具、消费产品检测认证服务。
DL具有丰富的认证经验，提供CE、KC、FCC、CB、GS、TUV、SASO、SONCAP、SAA、UL和CCC等一站式认证代理服务。
DL自成立以来，秉承“积极，耐心、，”的企业服务理念得到许多客户和合作机构的支持，帮助客户一次申请获得多国的认证证书和报告。
分子：保持物质化学性质的一种微粒；
原子：化学变化中的小微粒，原子中心的原子核有质子和中子，环绕原子核运转的是电子；
电子：具有小电量的质量小的粒子(现在有分数电量之说)；
离子：以带正电(正离子)或负电(负离子)的原子或分子形态存在。
单晶体：按照一定规则的原子序列构成的晶体；
多晶体：小的单晶体的；
晶体：由反映晶体特征的基本单元在三维空间堆积而成的。把基本单元叫做晶胞；
质子数目＝电子数目 =〉电中性
质子数目>电子数目 =〉正电性
质子数目<电子数目 =〉负电性

静电的产生：
静电产生的两种途径，静电是一种静止的电荷，是电子不均匀分布的结果，主要是摩擦产生，其他像电场诱发，直接充电等，即摩擦起电与感应起电。

ESD静电放电模型：
(1)HBM 人体放电模型(Human-Body Model, HBM)
人体模型（Human Body Model - HBM），HMB是ESD模型中建立早和主要的模型之一。
HBM是传统的测试模式，定义在工业标准 (MIL-STD-883x)中。人体上带电，特别在干燥的冬天，常会接触如门把手时便会有被电到的感觉。这是人体活动的结果，静电荷积聚在人体上，当我们去接触芯片时，人体上的静电就经由IC的pin脚进入芯片内部，然后经由IC放电到地。(不只在接触PIN时才会发生，因为封装IC的表面就存在静电荷，接触包装表面也会发生。)放电过程在瞬间发生，大概几纳秒内将IC组件烧毁。
(2)MM 机器放电模型 (Machine Model, MM)
机器放电模式，也就是将人体换成了机器设备，主体部分的改变，使得测试模式的改变。在这情况下，指静电电荷积累在机器设备上，当接触到IC进对芯片放电，并因此毁坏了电路。机器放电模式，工业标准EIAJ-IC-121 method20。MM测试电路与HBM相似，数值改变如，电容值为200pf,充电电压500V,充电电阻100Mohms，放电部分加>500nH电感(电感量与电流无关，感抗XL=2πfL，f为频率)。因为绝大部分机器是金属的，等效电阻较小，导致瞬时放电电流巨大(几安培)。机器模型因在日本得到广泛应用，也叫日本模型。与家具模型不同的是它主要由200pf电容串非常低的电阻（<10Ω）代替通常串联的电阻构成。机器模型的典型代表如带电绝缘的机器人手臂、车辆、绝缘导体等。机器模型放电的波形与预料的家具模型波形相似，不同的是带电电容较大。典型的机器模型对小电阻（＜10Ω）放电的波形, 峰值电流可达几百安培，持续时间（决定于放电通路的电感）为几百纳。
(3)CDM 组件充电模式 (Charged-Device Model, CDM)
这种模式下，电荷积聚在IC本身，可能是因为与PIN摩擦，或者是接触到其他物体的静电电荷，使本身带电。再通过直接接地或间接接地进行放电，而形成的一种放电现象。此类现象的模拟十分困难，是因为导致放电的组件差异所造成的。这种现象表明IC可能在生产过程中受损，比如IC在传输过程中带电，在安装到电路板上时接地而损坏。有时也可能在测试过程中受到损坏。CDM等效电路因情况的不同而多种多样。因为封装很小，所以电容和电感值都很小，大约5pf和10nH。CDM的放电时间很短，电流能在1ns时间内冲到15安培的高峰，因此这种现象更*对IC造成损伤。CDM与HBM没有相互关连性，成功的CDM测试不能预示器件用HBM会发生什么情况!
(4)其它FIM/IEC/E- 电磁场感应模式 (Field-Induced Model, FIM)
此类模式与CDM相似，只是IC带电方式不同。这种模式是IC在电场环境中，因感应而使本身带电，放电模式与CDM类拟。这种模式工业标准(JESD22-C101)，详情请阅读相关标准。

影响电荷量的因素：
摩擦电荷的极性与强度是由摩擦电序列决定，湿度愈高，静电愈低。55%湿度的静电产生量约为10%湿度的5-20%。其中还与电荷产生的速度；摩擦起电的相对位置；接触紧密程度；摩擦系数；分离速度.放电速度：材料的电导率；相对湿度；表面水汽分布；再接触的速度等甚至是还伴随一些不确定因素有关系。
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